化成、排气与老化：把首圈反应变成可追溯的工艺过程

化成前要确认电芯极性、初始 OCV、质量、厚度和气密，扫码绑定托盘和通道。夹具探针污染、压紧不足或线束松动会带来额外压降和发热；温控位置不同也会改变电压与容量表现。

实用做法是定期用标准件或交叉换位检查通道偏差，保存校准状态和接触压降。若异常集中在同一通道或同一托盘位置，应先排设备和温控，不要直接判定整批电芯不良。

硬碳首圈会消耗一部分钠形成 SEI，正极高电位区也可能发生电解液氧化和 CEI 形成。程序中的电流、截止电压、静置和温度共同决定反应速率。不同正极、硬碳、电解液、N/P 和电压窗口不能共用一套化成参数。

公开商业钠离子电芯研究中可见低倍率形成与后续容量测定的组合，但这只能说明具体样品的实验程序。企业应通过电压曲线、首圈库仑效率、温升、产气/厚度和长期循环，选择自己的分步与倍率。

电压偏高可能来自内阻、接触或欠浸润，也可能是程序和温度不同；恒压时间变长可能对应极化增加；首圈效率偏低可能与硬碳表面、副反应、水分、配平或电解液有关。单一终值很难分清这些原因。

分析时先把每只电芯的异常出现在哪个阶段、持续多久、是否伴随温升或厚度增长标出来，再与同批群体和上游注液、焊接、极片卷号比较。异常若在相同设备通道重复，应优先查设备；若与材料或装配批次群聚，再进入上游排查。

软包和部分结构需要在化成后排气、二封。排气前后应记录质量和厚度，确认抽出的主要是气体而不是过量电解液；二封后重新检查封装位置、气密和绝缘。产气异常不能只靠排气解决，仍要回看水分、电解液、界面反应和程序。

老化阶段用于观察 OCV、内阻、厚度、质量和气密的缓慢变化。所有电芯应在可比 SOC 和温度下计时，温度未平衡时的 OCV 不宜直接比较。延长老化可以提高某些缓慢缺陷的发现概率，但会增加库存和场地，源头颗粒与微漏控制仍然更重要。